5/16 14:55 – 15:55
第1会場
FS01

技術セミナー PCCTとAIへの取り組み

座長:

宇都宮 大輔(横浜市立大学 放射線診断科)
横田 元(千葉大学大学院医学研究院 画像診断・放射線腫瘍学)
演者:

1. NAEOTOM Alpha class: Photon-counting CT時代における画像診断技術
 日和佐 剛(シーメンスヘルスケア株式会社 ダイアグノスティックイメージング事業本部 CT事業部)

2. Silicon検出器PCCTという新しい選択肢
 佐藤 秀昭(GEヘルスケア・ジャパン株式会社 イメージング本部 CT部 プロダクトリーダー)

3. AI画像再構成がもたらす新たなイメージング技術
 小川 亮(株式会社フィリップス・ジャパン プレシジョンダイアグノシス事業部)

4. 画像処理・解析ソリューションにAIを活かす ~キヤノンの取り組み~
 堤 高志(キヤノン株式会社 メディカル事業本部 画像診断システム第三事業マーケティング・プロモーション部 第三事業クリニカルソリューション課)